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HJS-I介質損耗（介電常數）測試系統

        

        


        高頻介質損耗（介電常數）測試系統依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε）自動測量的*佳解決方案。
        

        

        時間：2024-06-04
        

        型號：HJS-I
        

        廠商性質：生產廠家
        

        瀏覽量：3123
        

        

        

        

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