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      介電常數介質損耗測試儀

      簡要描述:介電常數介質損耗測試儀由HJS-I型高頻Q表、AS916測試裝置(夾具)、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入HJS-I型高頻Q表軟件模塊)、及HLKI-1型電感器組, 液體杯(可選,用于測試液態材料)組成。
      高頻介質損耗(介電常數)測試系統依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提

      • 產品型號:HJS-I
      • 廠商性質:生產廠家
      • 更新時間:2024-06-04
      • 訪  問  量: 2131

      詳細介紹

      介電常數介質損耗測試系統方案

      高頻介質損耗(介電常數)測試系統由HJS-I型高頻Q表、AS916測試裝置(夾具)、數據采集和tanδ自動測量控件(裝入HJS-I型高頻Q表軟件模塊)、及HLKI-1型電感器組, 液體杯(可選,用于測試液態材料)組成。

      介電常數介質損耗測試儀依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的最佳解決方案。

      介電常數介質損耗測試儀配置方案如下表:

      主機

      HJS-I高頻Q

      測試裝置

      AS916

      HLKI-1型電感器組

      9

      試驗液體杯

      可選

                                               

      1 HJS-A+AS916+HLKI-1電感組配置及參數:

               

      測試頻率范圍

      10KHz-70MHz, LCD顯示,6位有效數 ,DDS數字合成

      Q值測量范圍

      1~1000四位數顯,±0.1Q分辨率

      可調電容范圍

      28490pF 0.1pF分辨率

      電容測量誤差

      ±0.5%±0.5pF

      Q表殘余電感值

      20nH

      AS916測試裝置

      屏幕5位數顯,極片為φ38和φ50二選一,支持液體杯測試, 液體杯測試極片為φ38

      數據采集和tanδ自動測量控件

      支持

      技術參數

      1Q值測量

        aQ值測量范圍:21023

        bQ值量程分檔:30、100300、1000、自動換檔或手動換檔。

        c.標稱誤差

      頻率范圍         10kHz10MHz;

      固有誤差        5%±滿度值的2%;

      工作誤差        7%±滿度值的2%;

      頻率范圍          10MHz70MHz;

      固有誤差         6%±滿度值的2%;

      工作誤差        8%±滿度值的2%。

      2)電感測量范圍:14.5nH~8.14H

      3)電容測量:1~ 460

         

      直接測量范圍  1460pF

      主電容調節范圍  30500pF

          150pF以下±1pF;

      150pF以上±1

      4)信號源頻率覆蓋范圍

         

      頻率范圍 10kHz70MHz

      頻率分段(虛擬)     1099.9999kHz

      100999.999kHz

      19.99999MHz

      1070MHz    

      頻率指示誤差              3×10-5±1個字

      5Q合格指示預置功能

        預置范圍:51000

      6Q表正常工作條件

          a.  環境溫度:0℃~+40℃;  

      b.相對濕度:<80%;  

      c.電源:220V±22V50Hz±2.5Hz。

      4、設備配置:

      a.測試主機一臺;

      b.電感9只;

      c.夾具一套  



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